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X射線電子能譜

發布時間: 2017-04-06 17:06   833 次瀏覽

X射線電子能譜

儀器名稱

X射線電子能譜(XPS

英文名稱

X-ray photoelectron spectroscopy 

型號

島津 AXIS UltraDLD 

技術指標

能量分辨率:0.48 eV/(Ag 3d5/2),0.68 eV/(C 1s)

zui小分析區域(收譜) <10μm

靈敏度(Ag 3d5/2:大面積 11,800kcps (1.3eV )

空間分辨率 (快速平行成像 ):小于3μm

空間分辨率(掃描成像)15μm 27μm

應用領域

多功能X射線光電子能譜儀可以提供有關固體表面和界面的化學信息。可以分析除氫、氦以外的所有元素,包括元素種類及價態。并可以提供測定元素相對含量的半定量分析。

廣泛應用于研究聚合物、無機化合物、有機化合物、催化劑、涂層材料、納米材料、礦石等各種材料。

功能特色

能分析小至10μm的微小區域;能進行在1nm~nm深度分辨率下分析到μm量級深度的深度剖面分析


詳情咨詢:

電話:028-65772638;17778390764

Q Q:1732343448


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